中国工程院院士吴汉明:本土可控的 55nm 比进口 7nm 更有意义
发表时间:2021年4月27日 10:18 来源:飞象网
本月早些时候,在中国工程院主办的“中国工程院信息与电子工程前沿论坛”上,中国工程院院士吴汉明对我们目前面临的光刻机、产业链国产化等关键问题进行了分析。
他认为,我国集成电路产业目前正面临两大壁垒:政策壁垒和产业性壁垒。前者包括巴统和瓦森纳协议,后者则是世界半导体龙头长期以来积累的专利。
他表示,目前我国许多集成电路行业处于落后状态,例如三大卡脖子领域:装备、制造、半导体材料。不过目前摩尔定律放缓,这给我们带来了追赶的机会。
据悉,目前我国 10 纳米节点以下先进产能占 17%,83% 市场在 10 纳米以上节点,在先进制程研发不占优势的情况下,我国可以运用成熟的工艺,把芯片的性能提升。
他因此提出了一个观点:本土可控的 55nm 芯片制造,比完全进口的 7nm 更有意义。不过吴汉明同样强调,自主可控固然重要,但也要认识到集成电路产业是全球性的产业。
他以 EUV 光刻机为例:最新光刻机约涉及到十多万零部件,也需要 5000 多家供应商支撑,其中 32% 在荷兰和英国,27% 供应商在美国,14% 在德国,27% 在日本,这就体现了全球化技术协作的结果。