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2021年度原厂颗粒固态硬盘深度测试总结
发表时间:2022年4月6日 23:46 来源:某东自营随机性自购 责任编 辑:麒麟

声明:本次测试源自B站UP主小飞机DIY,结果仅供参考,最终解释权归原厂品牌所有!

测试时间:2021年10月24日0时起——2022年1月10日止

测试型号:金士顿KC2500(非原厂颗粒用于测试对比)、英睿达P5、铠侠RD20、西数SN750、致钛PC005 Active、三星970EVO PLUS

测试容量:1TB

测试模式:黑盒测试+白盒测试

样本来源:某东自营随机性自购

测试项目:厂商宣传PE数、冷数据、IO负载测试、循环通断电测试

测试共消耗硬盘:18块

测试时主要涉及的工具/硬件:urwtest(用于读写校验测试)、Anvil Storage(用于模拟用户日常使用测试)、Oracle11G(用于模拟IO测试)、Pentaho Kettle(IO测试中间件)、加热台(模拟冷数据测试)、电磁继电器(用于模拟通断电)、18650电池、可调电源、USB线若干、JMS583方案硬盘盒、M.2 NVME转PCI-E硬盘转接卡等

测试环境:华硕Z9PAU8(X79芯片组)+Xeon E5 2650L v2(10C/20T)+三星32G DDR3 REG

系统:Windows 10 工作站版(20H2)

测试目的:

1.验证原厂颗粒硬盘颗粒寿命是否可达原厂宣传标准(主要)

2.验证硬盘上长期未使用的文件固件算法对该数据读取速度的影响(冷数据)

3.验证硬盘在高负载情况下表现(IO测试——附加项目)

4.验证在保期间硬盘是否会因断电导致损坏(循环通断电测试)

PS:为保证测试变量一致性,每次测试都是在同一台机器上同时进行的

先上一张官方宣传页的寿命

废话不多说,先直接看结果(建议综合一起看)

寿命整体测试结果:

冷数据测试结果:

测试参考闪存通的SSD老化对照表

计算方式使用闪存通的老化计算器

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