4.THz在片测试系统解决方案

5.全新多端口器件测试解决方案

6.PCB特性测试方案

7.城市电磁环境下整车适应性测试方案

8.最新EMI认证测试接收机

9.板级EMI诊断测试方案

10.电源完整性测试方案

11.最新示波器应用技术

12.VI测试仪器系列

13.电池寿命测量系统

14.毫米波阵列天线的波束指向实时测量

15.高功率射频信号的生成与放大

与会代表和参观者将直接接触和了解到R&S最新的测试技术以及R&S的核心测试测量仪表、根据客户需求定制开发电磁兼容和微波射频测试解决方案。这些新产品和亮点引导着新领域的电子设计发展，成为电子设计领域的专家与工程师共同关注的焦点，R&S公司向行业内的用户展示了一如既往的承诺：为广大客户提供一流的产品、优质的服务以及先进的理念。

罗德与施瓦茨公司现欢迎电子工业各个领域的专家与工程师，前来参加中国第五届电子设计创新会议（Electronic Design Innovation Conference，EDI CON 2017），交流洽谈技术与行业发展的最新动态，罗德与施瓦茨展位号：401