先上未老化前的测试结果做为对比

由于全部硬盘质保期为5年,因此直接测试5年老化情况

老化数据参考小程序闪存通

模拟温度:35度

老化温度:150度

分别测试半年、一年、两年、三年、四年、五年

1年模拟后英睿达P5及金士顿KC2500在老化测试中掉速最严重

英睿达P5在模拟第二年的时候因数据校验不通过而退出测试

四年模拟时金士顿因不识别而退出测试

5年模拟测试三星、致钛、西数、铠侠存活成功

IO测试(子项目)

此处采用Oracle11G数据库+Kettle写入对比基准线1000W数据进行测试

用于计算IO消耗时间

Oracle表空间分别置于每个盘的根目录内

默认分配存储块200M,自动增长、自动扩展表空间开启

Oracle主程序安装于C盘

安装Oracle 11G途中

用于写入数据的中间件 Kettle

英睿达因为在高IO写入的情况下发生了掉盘情况,因此IO测试不包含英睿达P5

空盘状态下各盘写入耗时均为37分钟写入1000W测试数据(英睿达除外)